Тестер старения чипов CFT1000
Тест на старение — это критическая оценка стабильности работы чипа в экстремальных температурных условиях. Подвергая чип длительному воздействию высоких или низких температур и контролируя его производительность, тестер старения чипа CFT1000 эффективно оценивает надежность и стабильность устройства.
- HC
- КИТАЙ
- 1 МЕСЯЦ
- 3000/МЕСЯЦ
- Информация
The Тестер старения чипов CFT1000 выполняет комплексные испытания на старение, подключаясь к тестируемому устройству (ДУТ) через высокотемпературные кабели и приспособления. После включения питания Тестер старения чипов CFT1000 непрерывно отслеживает множество параметров производительности тестируемого устройства в экстремальных температурных условиях, включая напряжение, ток, частоту, температуру, чтение/запись памяти и функции связи, чтобы определить, соответствует ли микросхема стандартам квалификации.
The Тестер старения чипов CFT1000 идеально подходит для испытаний на отказ часов реального времени и других полупроводниковых приборов, поддерживая до 480 тестируемых устройств за один цикл испытаний. Тестер старения чипов CFT1000 может измерять критические сигналы, такие как напряжение, ток, частота и температура, в широком диапазоне температур -55℃ до 155℃. Связь с ДУТ осуществляется через I2C, СПИ или RS485 интерфейсы, в то время как Тестер старения чипов CFT1000 подключается к хост-компьютеру через USB/Ethernet. Кроме того, Тестер старения чипов CFT1000 оснащен встроенным двухканальным источником питания для гибких конфигураций тестирования.
Удобное программное обеспечение и автоматизация
Программное обеспечение Чип Старение Тестер CFT1000 поддерживает как ручной, так и автоматический режимы тестирования. В автоматическом режиме пользователи могут импортировать файлы тестовых сценариев для автоматической настройки параметров. После нажатия кнопки "Выполненоddhhh, Тестер старения чипов CFT1000 запускает тестовую последовательность в однопроходном или циклическом режиме. Все данные и результаты тестирования автоматически заносятся в компьютерный отчет для дальнейшего анализа.
Настройка и эксплуатация теста
Испытуемое устройство помещается в гнездо испытательного приспособления, а приспособление и испытываемое устройство размещаются внутри тепловой камеры.
The Тестер старения чипов CFT1000 и ПК остаются снаружи камеры, подключенные через высокотемпературные кабели (для сигнала/питания) и USB (для передачи данных).
Чтобы начать тестирование:
Подключите блок питания переменного тока и включите Тестер старения чипов CFT1000.
Запустите Тестер старения чипов CFT1000 программный интерфейс.
Запустите процесс тестирования одним щелчком мыши.
Краткое изложение основных характеристик
Высокопроизводительное тестирование: Поддерживает 480 тестируемых устройств одновременно.
Широкий диапазон температур: -55℃ до 155℃ для моделирования экстремальных условий.
Поддержка нескольких интерфейсоврт:I2C, СПИ, RS485 для гибкой связи с тестируемым устройством.
Автоматизированная отчетность: Создает журналы испытаний и отчеты в режиме реального времени.
The Тестер старения чипов CFT1000 обеспечивает эффективную и точную проверку надежности полупроводников, что делает его важнейшим инструментом для производства ИС и обеспечения качества.
